韓國 Micro Pioneer XRF -2000系列／熒光金屬鍍層測厚儀

韓國 Micro Pioneer XRF -2000系列／熒光金屬鍍層測厚儀

     Micro Pioneer XRF -2000系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量，同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析，不單性能優(yōu)越，而且價(jià)錢(qián)超值只需數秒鐘，便能非般壞性地得到準確的測量結果其至是憲層層的樣品也一樣能勝任全目動(dòng) XYZ 褲品臺鐳射自動(dòng)對焦系統，十字線(xiàn)自動(dòng)調整超大／開(kāi)放式的樣品臺，可測量較大的廣品是線(xiàn)路板，五金電鍍首飾子等行業(yè)的首冼可測量各類(lèi)金屬層、合金層厚度。

可測元素范圍：

鈦（ Ti )﹣鈾（ U )

可測量厚度范圍：

原子序22-25,0.1-0.8um26-40,0.05-35um43-52,0.1-100um/2-82,0.05-5um×﹣射線(xiàn)管：油冷超微細對焦高壓：0-50KV（程控）

準直器：

固定種類(lèi)大?。嚎蛇x0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自動(dòng)種類(lèi)大小可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統：1BM相容，17”顯示器

綜合性能：

鍍層分析：定性分析定量分析鍍液分析

鍍層分析：可分析單層鍍層雙層鍍層三層鍍層，合金鍍層

鍍液分析：可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度鍍銅藥水的銅離子濃度等），簡(jiǎn)單的核對方式無(wú)需購買(mǎi)標準藥液

定性定量分析：可定性分析20多種金屬元素并可定量分析成分含量．

光譜對比功能：可將樣品的光譜和標準件的光譜進(jìn)行對比可確定樣品與標準件的差別，從而控制來(lái)料的純度．

統計功能：能夠將測量結果進(jìn)行系統分析統計，方便有效的控制品質(zhì)．